<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><rss version="2.0"><channel><title><![CDATA[미래로시스템 보도자료 - 뉴스와이어]]></title><link>https://www.newswire.co.kr/?md=A10&amp;act=article&amp;no=8586></link><description><![CDATA[미래로시스템 보도자료 - 뉴스와이어 RSS 서비스]]></description><lastBuildDate>Sat, 04 Jul 2026 00:35:02 +0900</lastBuildDate><copyright>Copyright (c) 2004~2026 Korea Newswire All rights reserved</copyright><language>ko-KR</language><item><title><![CDATA[미래로시스템, 미국 Stratosphere사와 반도체 DFM, EDA 분야 영업 제휴]]></title><link>https://www.newswire.co.kr/newsRead.php?no=222872</link><description><![CDATA[분당--(뉴스와이어)--미래로시스템(대표:김중근(金重根)/)은 반도체 EDA, DFM (Design for Manufacturability) 분야의 기술 기업인 미국 Stratosphere 사와 영업 제휴 계약을 체결했다고 1월 31일 발표했다.  최근 들어 반도체 소자 제조 공정이 수십 나노미터 수준으로 미세화 되고, 생산성 증가를 위하여 단일 칩의 면적을 최소화하는 추세에 의해, 소자 내에 위치한 검사용 블록을 최소 면적...]]></description><pubDate>Thu, 01 Feb 2007 00:00:00 +0900</pubDate></item><item><title><![CDATA[미래로시스템, 국내 최초 반도체 전공정 결함측정장비 개발]]></title><link>https://www.newswire.co.kr/newsRead.php?no=182027</link><description><![CDATA[분당--(뉴스와이어)--㈜미래로시스템(대표:김중근(金重根)/)은 국내 최초로 반도체 전공정 결함 측정 장비 WaBIS(Wafer Backside Inspection System)를 자체 기술로 개발에 성공했다고 발표했다.  WaBIS는 회로선폭 90나노미터 이하급 초미세 가공 공정에서 주요한 결함(Defect)으로 부각되고 있는 Defocus 불량을 예측하고, 이를 유발하는 웨이퍼 후면의 결함 을 검사하며, 나아가 이러한 결함...]]></description><pubDate>Mon, 04 Sep 2006 06:00:00 +0900</pubDate></item></channel></rss>