KRISS, 국제특허분쟁 해결 도우미로 나섰다
최근 KRISS(한국표준과학연구원, 원장 김명수)가 국내 기업의 국제 특허분쟁 해결의 도우미로 나서 눈길을 끈다. KRISS 산업측정표준본부 나노소재측정센터 김경중 박사는 우리나라의 한 중견 기업과 외국 기업 간의 사활을 건 국제 특허 분쟁을 해결하는데 중요한 역할을 하였다.
국내기업의 특허팀이 KRISS 김경중 박사를 찾는 것은 지난해 7월. 같은 분야의 세계적 기업인 한 외국기업으로부터 자사의 특허기술을 침해했다며 특허소송을 제기당한 후 2년여에 걸친 특허 공방의 막바지 시점이었다. 국내기업은 당시 이 문제로 큰 경제적 어려움을 겪고 있었고 회사의 사활을 위해서도 반드시 승소해야만 하였다. 이를 위하여 공신력 있는 국가 측정대표기관의 정확한 결과 해석과 보장이 절실한 상황이었다.
우리나라의 KRISS를 포함해 미국, 일본, 영국 등 세계 각국의 국가측정표준대표기관은 WTO 출범 이후 국제무역의 기술 장벽을 제거하기 위한 국제표준화 활동을 광범위하게 진행하고 있다. 이러한 활동의 일환으로 각국의 측정 능력을 객관적으로 평가하기 위하여 다양한 국제비교(KC : Key Comparison)를 실시하고 있다. 국제비교 결과는 각국의 측정과학기술 수준 및 측정 신뢰도와 직결되어 기업의 산업경쟁력을 강화하고 특허분쟁에 있어 각국의 측정 결과를 보장하여 산업체를 지원할 수 있다. KRISS는 이미 나노미터(nm) 산화막 두께 측정 국제비교에서 최고의 측정 결과를 도출하는 등 첨단 측정 분야에서도 세계 최고 수준의 측정 능력을 인정받고 있는 상황이다.
이번 특허 분쟁에서는 반도체 분석에 광범위하게 사용되는 이차이온질량분석법(SIMS)의 결과 해석이 핵심 사안이었다. 이미 이 분야의 국제적 전문가로 알려진 KRISS 김경중 박사는 소송을 제기하기 위해 외국 기업이 무리하게 해석한 부분을 파악하여 해석을 바로 잡는 중요한 역할을 하였다. 그 결과 국내기업은 지루한 특허소송에서 승소하였고 이는 주가 상승분만 하여도 1조원 이상의 경제적 이익을 가져올 수 있었다.
표준연 관계자는 “첨단제품의 경우 특허사용료가 판매가의 20～30 %를 차지해 자칫 특허분쟁 문제가 규모가 크지 않은 중소·중견기업에는 사활을 결정할 수 있는 중요한 사안”이라며 “산업체의 경쟁력 강화를 위해 KRISS와 같은 공신력 있는 정부출연연구기관의 지원이 무엇보다 중요하다는 것을 보여준 대표적 사례”라고 말했다.
KRISS는 현재 다양한 분야의 국제표준 활동과 국제비교를 통해 측정/분석에 대한 국제적 신뢰도를 더욱 높이고 있다. 이러한 활동의 결과는 앞으로 국내 기업이 유사한 특허 분쟁에 휘말릴 경우 성공적인 분쟁 해결을 위한 디딤돌이 될 것이다.
한국표준과학연구원 개요
국가측정표준 정점이며 가장 앞서가는 측정을 연구하는 대덕연구단지내의 출연연구기관입니다.
웹사이트: http://www.kriss.re.kr
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한국표준과학연구원 나노소재측정센터
김경중 박사
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