한국NI, 테스트를 위한 200 MHz 계측기와 섀시 출시
NI PXIe-6544/45 모듈의 고급 연산을 이용하면 아날로그-디지털 컨버터 (ADC), 디지털-아날로그 컨버터 (DAC), 메모리 디바이스, ASIC 그리고 마이크로컨트롤러와 같이 보다 빠른 반도체 디바이스를 정확하게 자동화 시켜 테스트할 수 있다. 이 제품이 출시되기 전의 한 예로, 200 MS/s DAC 테스트의 경우 고속 패턴 생성기와 오실로스코프 그리고 파워 서플라이가 필요했었다. 새로 출시된 NI PXIe-6545 생성기/분석기와 NI PXIe-1082 섀시를 이용하면 소형 크기의 소프트웨어 정의 모듈형 계측으로 특성화 및 제품 테스트를 수행할 수 있다. 본 접근방식은 프로그램적으로 전압을 1.2, 1.5, 1.8, 2.5 또는 3.3 V 중 선택이 가능하기 때문에 보다 뛰어난 유연성을 제공한다. 또한 32개 채널의 입력 또는 출력 각각을 독립적으로 구성할 수 있으며 서브헤르츠(Subhertz) 주파수 선택을 위해 고해상도 온보드 클럭을 사용할 수 있다. 새로 출시된 고속 PXI Express 디지털 계측기와 고대역폭 섀시의 데이터 처리량은 여러 멀티미디어 디바이스뿐 아니라 최고 1080p의 60Hz HDTV 신호, LCD 화면, RF 기저대 디바이스와 HD 라디오를 테스트하는 데 이상적이다.
NI PXIe-6544/45 모듈은 온보드 DDS(Direct Digital Synthesis) 클럭과 같은 강화된 타이밍과 동기화 기능을 포함하고 있어 DC에서 200 MHz에 이르는 서브헤르츠 해상도를 제공한다. 이로써 외부 클럭을 사용하지 않으면서 추가적인 고해상도 클럭킹 디바이스와 외부 타이밍 케이블 없이도 고해상도로 데이터 생성과 수집을 클럭킹할 수 있다. 또한 DDS는 임의 클럭 주파수가 필요한 테스트 어플리케이션을 관리하도록 돕는다. 엔지니어들은 온보드 클럭을 기타 계측기에 반출하거나 NI PXIe-1082 섀시의 백플레인이나 생성기/분석기 전면부의 SMB 커넥터를 통해 외부 클럭을 반입할 수 있다. 이 같은 기능을 이용하면 NI PXIe-6544/45 모듈을 기타 아날로그 또는 디지털 계측기와 신속히 동기화하여 디바이스 전반에 생성된 신호와 측정의 최대 연동이 가능하다.
NI PXIe-1082 8-슬롯 고대역폭 3U 섀시는 모든 슬롯에 연결되는 PCI Express 레인이 눈에 띄는 특징이다. 이 섀시는 PXI Express나 PXI 하이브리드-슬롯-호환 모듈을 사용하여 기존 PXI 모듈을 최대한 재사용할 수 있다. 고성능 시스템을 위해 제작된 NI PXIe-1082 섀시는 섭씨 0~50도의 작동 온도 범위를 제공하며 전력 관리, 팬 상태 및 온도 모니터링을 포함한 통합된 시스템 모니터링 기능을 모든 섀시에 제공한다.
새로 출시된 NI PXIe-6544/45 디지털 파형 생성기/분석기와 NI PXIe-1082 섀시에 대한 자세한 정보는 웹사이트 ni.com/korea/pxi에서 확인할 수 있다.
문의: 02-3451-3400, infokorea@ni.com
한국내쇼날인스트루먼트 개요
한국내쇼날인스트루먼트(주)는 컴퓨터 기반 계측 및 자동화 솔루션을 제공하며, 대표 제품은 그래픽 기반의 프로그래밍 언어인 LabVIEW와 데이터 수집 보드, 모듈형 계측기 등이 있다. 미국 텍사스주 오스틴에 소재한 내쇼날인스트루먼트 본사와 40개 국의 지사에서 6천여 명의 임직원이 근무하고 있으며, Fortune지에서 선정하는 일하기 좋은 100대 기업에 12년 연속 선정된 바 있다.
웹사이트: http://ni.com/korea
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