차세대 ‘자기메모리’ 오동작 방지 핵심문제 해결…고려대 이경진 교수 주축 산학연 공동연구 네이처 피직스誌에 실려

서울--(뉴스와이어)--고려대 이경진 교수(신소재공학과)를 주축으로 한 삼성전자 오세충 박사, 한국기초과학지원연구원 박승영 박사, 포스텍 물리학과 이현우 교수의 산학연 공동연구팀이 차세대 메모리인 STT-MRAM(스핀토크 자기메모리)에서 발생하는 오동작의 원리를 규명하고, 양자효과 조절을 통해 오동작을 방지할 수 있다는 사실을 밝히는데 성공했다.

이번 연구는 교육과학기술부와 한국연구재단이 추진하는 중견연구자지원사업, 삼성전자의 산학과제, 한국기초과학지원연구원과 한국과학기술정보연구원의 지원을 받았으며, 물리학 분야의 저명 국제 과학저널인 네이처 피직스(Nature Physics)지 10월 25일자에 게재되었다.

연구 총괄을 맡은 고려대 이경진 교수는 “대부분의 메모리 소자들에 대한 연구가 크기가 작아질 때 생기는 양자효과를 어떻게 하면 피할 수 있는가에 초점이 맞춰진데 반해, STT-MRAM의 경우 양자효과를 적극적으로 활용하여 더 우수한 특성을 얻을 수 있었다”며 연구의의를 설명하고,“이번 연구는 기초학문이 실제 기업에서 발생하는 문제를 해결하는 이론적 토대가 된다는 좋은 예”라고 기초학문의 중요성을 밝혔다.

STT-MRAM은 수십 나노미터 크기의 작은 자석에 전압을 인가할 때, 자석의 자화방향이 바뀌는 스핀전달토크(spin-transfer torque)를 이용하는 방식의 비휘발성 메모리로서, 현재 기술적 한계로 인식되는 30나노급 이하의 초미세 공정이 가능한 차세대 메모리다.

이 메모리를 개발한 국가와 기업이 향후 메모리 시장을 주도할 것으로 예상되면서, 선진국과 전 세계 주요 반도체 회사에서 연구개발 중이다. 그러나 STT-MRAM은 빠른 속도로 구동할 때 오동작이 발생하는 문제가 존재하여 상용화에 중대한 걸림돌이 되어왔다.

연구팀은 이러한 오동작이 스핀전달토크의 특이한 전압의존성에 의한 것임을 밝혀냈다. 또한 자성전극의 양자효과를 조절하여 스핀전달토크의 전압의존성 제어에 성공하여, 이러한 오동작이 일어나지 않는 STT-MRAM을 구현했다.

※ 용 어 설 명

1. STT-MRAM
차세대 메모리로 고려되고 있는 주요 후보 중의 하나로서, 몇 십 나노미터 (1 나노미터 = 십억분의 일 미터) 정도의 작은 자석의 N극과 S극이 어느 방향인지를 이용해 정보를 기억하는 장치로, 현재 국내 삼성전자, 하이닉스를 포함하여 NEC, Toshiba, Hitachi, IBM, Qualcomm 등 세계 주요 반도체 회사들이 뜨거운 연구경쟁을 벌이고 있음. STT-MRAM은 작은 크기의 자석을 이용한다는 측면에서 기존의 하드디스크와 유사하지만, 하드디스크가 자기장을 이용해 정보를 기록하고 읽어내는 반면, STT-MRAM은 작은 자석에 흐르는 전류를 이용해 정보를 기록하고 읽어내기 때문에, 매우 빠른 동작 속도를 구현할 수 있다는 점이 큰 장점임.

2. 스핀전달토크 (Spin-Transfer Torque)
자성체에 전류 (혹은 전압)를 주입하면, 주입된 전자가 갖고 있는 스핀이 자성체를 구성하고 있는 스핀에 전달되어, 자성체 스핀의 방향을 조절할 수 있는 물리현상이며, 현재 새로운 비휘발성 메모리로 연구 중인 스핀토크 엠램 (STT-MRAM)의 기록방식으로 국내는 물론 전 세계 주요 반도체 업계에서 매우 활발한 연구경쟁이 이루어지고 있음.

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