NI PXI Semiconductor Test Suite으로 PXI 기능 확장

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2009-11-17 13:28

서울--(뉴스와이어)--내쇼날인스트루먼트(웹사이트 ni.com/korea)는 혼합 신호 반도체 테스트를 위한 PXI의 기능을 확장하는 PXI 제품 10가지를 새로 선보인다. 소프트웨어로 정의되는 신제품들은 NI LabVIEW에 최적화되어 있으며 4개의 고속 디지털 I/O (HSDIO) 계측기, 2개의 디지털 스위치, 2개의 향상된 RF 계측기, 고정밀 SMU(Source Measure Unit), 특화된 디지털 벡터 반입 소프트웨어를 포함한다. 새로 출시된 NI PXI Semiconductor Suite은 200 MHz 싱글 엔드 디지털 I/O, 10 pA 전류 해상도, 신속한 멀티밴드 RF 측정, DC/디지털 스위칭 및 Waveform Generation Language (WGL), IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) 파일 반입 기능 등 수많은 새 기능들을 통합한다.

PXI Semiconductor Suite은 ADC, DAC, 전원 관리 IC, 무선 IC, MEMS (Microelectromechanical System) 디바이스와 같은 일반 반도체 디바이스 테스트를 위한 PXI 기능 확장을 지속한다. 본 제품의 고급 기능으로 인해 반도체 디바이스의 특성화, 검증, 제조 테스트에 사용되는 기존 박스형 계측과 ATE 솔루션과 비교 시 보다 뛰어난 처리량과 유연성 그리고 빠른 개발 시간을 제공한다.

“내쇼날인스트루먼트의 혼합 신호 PXI 계측의 새 패키지를 이용하면 WGL 및 STIL 디자인 벡터를 반입하여 IC 디자인의 디지털 프로토콜과 중요한 타이밍 파라미터를 검증할 수 있습니다. PXI와 LabVIEW는 유연한 혼합 신호 특성화 플랫폼을 제공하여 테스트를 직접 신속하게 구성하고 전체 제품 개발 시간과 평가 비용을 줄여줍니다.”라고 아날로그 디바이스의 평가 엔지니어인 David Whitiley는 전했다.

HSDIO 계측기의 NI PXIe-654x 제품군에는 최고 200 MHz의 싱글 엔드 클럭 속도와 최고 400 Mbps 데이터 속도를 제공하는 4개의 새로운 모듈을 포함하고 있어 고속 칩 디자인을 테스트하고 보다 빠른 맞춤 통신 프로토콜을 수용하는 것이 가능하다. 본 제품군의 고급 디지털 모듈은 양방향 통신, 리얼타임 비트 비교, 두 배의 데이터 속도 기능, 다른 I/O 라인에 대한 여러 타이밍 지연 그리고 22개의 다른 전압 레벨(1.2 ~ 3.3 V) 같은 여러 추가적인 기능들이 향상된 디지털 I/O 테스트 유연성을 위해 포함되어 있다. 이 같은 새 디지털 I/O 디바이스들은 NI PXI-654x, PXI-655x 시리즈 고속 디지털 제품군들을 최고 200 MHz의 싱글엔드 및 LVDS 전압 기능을 가진 10개의 PXI 계측기로 확장한다.

새로운 NI PXI-4132 고정밀 SMU는 고해상도 전류 측정을 위해 10 pA까지 전류 민감도를 제공한다. 이 제품은 단일 출력에 원격 센싱과 외부 가딩(Guarding)을 제공하여 단일 PXI 슬롯에 최고 ±100 V 기능을 갖추고 있다. 그리고 SMU는 하드웨어 타임, 고속 곡선 추적을 위한 온보드 하드웨어 시퀀싱 엔진과 PXI 백플레인에 여러 PXI-4132 SMU를 트리거링하고 동기화하는 기능을 포함하고 있다. PXI-4132는 기존 PXI-4130 전력 SMU를 보완하여 4-구적 40 W 출력 (±20 V, ±2 A)을 제공하여 PXI를 위한 고정밀 및 고전력 소스 측정 옵션을 선보인다.

또한 NI PXI-2515와 NI PXIe-2515 디지털 스위치는 테스트 중인 칩에 연결된 HSDIO 라인에 정밀 DC 계측을 직접 멀티플렉싱 하도록 도와줌으로써 PXI 제품 패키지의 기능을 보다 더 강화시켜준다. 그리고 새로 출시된 스위치는 파라미터 측정을 위한 향상된 신호 연결 제공과 고속 디지털 엣지에서 신호 무결성을 유지한다.

NI PXIe-5663E와 NI PXIe-5673E 6.6 GHz RF PXI Express 벡터 신호 분석기 그리고 벡터 신호 생성기는 RF List Mode라고 하는 새 기능을 이용하여 RF 구성에서 빠르고 결정성 있는 변경을 통해 향상된 측정 속도를 제공하여 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있다. 새로운 기능을 이용하면 다른 RF 구성을 통해 신속한 주기로 사전 구성된 계측기 파라미터를 다운로드하는 것이 가능하다. 이는 여러 주파수에 대한 성능 확인이 필요한 전력 증폭기와 기타 RFIC를 테스트할 때 특히 유용하다. 추가된 본 기능을 이용하는 RF 엔지니어들은 기존 계측기와 비교하여 훨씬 빠르게 멀티 밴드 RF 측정을 수행할 수 있다.

PXI Semiconductor Suite은 NI PXI 고속 디지털 제품을 사용할 때 WGL 및 STIL 디지털 벡터 포맷을 효율적으로 반입하여 간단한 디자인-테스트 통합을 수행하는 솔루션을 도입하였다. NI와 Test Systems Strategies, Inc. (TSSI) 협력의 결과물인 내쇼날인스트루먼트 소프트웨어용 TSSI TD-Scan을 이용하는 반도체 테스트 엔지니어는 PXI 시스템에 WGL 및 STIL 시뮬레이션 벡터를 반입하는 것이 가능한데, 이전에 본 태스크를 수행하려면 직접 소프트웨어 개발이 필요했다. WGL/STIL 소프트웨어 툴의 평가판 버전은 모든 NI PXI-654x, PXI-655x 그리고 PXI-656x HSDIO 시리즈 제품을 지원하며 웹사이트 ni.com에서 다운로드 가능하다. 풀 버전의 소프트웨어 구입은 TSSI를 통해 가능하다.

ni.com/semiconductor/suite을 방문하여 PXI Semiconductor Suite을 보다 자세히 알아보고 아날로그 디바이스와 기타 업체들이 PXI와 LabVIEW를 이용하여 칩 테스트 비용을 절감한 방법을 확인할 수 있다.

문의: 02-3451-3400, infokorea@ni.com

한국내쇼날인스트루먼트 개요
에머슨(NASDAQ: EMR)은 세계 필수 산업에 혁신적인 솔루션을 제공하는 글로벌 기술 및 소프트웨어 기업이다. 한국NI(내쇼날인스트루먼트, National Instruments)는 에머슨의 자회사로, 1976년 미국 텍사스 오스틴에서 설립돼 반도체, 자동차, 국방항공, 전기전자 등 다양한 산업 분야에서 엔지니어와 기업의 생산성, 혁신, 발견을 지원하는 플랫폼을 제공해 왔다. 최근 에머슨과의 인수합병을 통해 새로운 비전과 도약이 기대되고 있다.

웹사이트: http://ni.com/korea