NI PXI Semiconductor Test Suite으로 PXI 기능 확장

2009-11-17 13:28
서울--(뉴스와이어)--내쇼날인스트루먼트(웹사이트 ni.com/korea)는 혼합 신호 반도체 테스트를 위한 PXI의 기능을 확장하는 PXI 제품 10가지를 새로 선보인다. 소프트웨어로 정의되는 신제품들은 NI LabVIEW에 최적화되어 있으며 4개의 고속 디지털 I/O (HSDIO) 계측기, 2개의 디지털 스위치, 2개의 향상된 RF 계측기, 고정밀 SMU(Source Measure Unit), 특화된 디지털 벡터 반입 소프트웨어를 포함한다. 새로 출시된 NI PXI Semiconductor Suite은 200 MHz 싱글 엔드 디지털 I/O, 10 pA 전류 해상도, 신속한 멀티밴드 RF 측정, DC/디지털 스위칭 및 Waveform Generation Language (WGL), IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) 파일 반입 기능 등 수많은 새 기능들을 통합한다.

PXI Semiconductor Suite은 ADC, DAC, 전원 관리 IC, 무선 IC, MEMS (Microelectromechanical System) 디바이스와 같은 일반 반도체 디바이스 테스트를 위한 PXI 기능 확장을 지속한다. 본 제품의 고급 기능으로 인해 반도체 디바이스의 특성화, 검증, 제조 테스트에 사용되는 기존 박스형 계측과 ATE 솔루션과 비교 시 보다 뛰어난 처리량과 유연성 그리고 빠른 개발 시간을 제공한다.

“내쇼날인스트루먼트의 혼합 신호 PXI 계측의 새 패키지를 이용하면 WGL 및 STIL 디자인 벡터를 반입하여 IC 디자인의 디지털 프로토콜과 중요한 타이밍 파라미터를 검증할 수 있습니다. PXI와 LabVIEW는 유연한 혼합 신호 특성화 플랫폼을 제공하여 테스트를 직접 신속하게 구성하고 전체 제품 개발 시간과 평가 비용을 줄여줍니다.”라고 아날로그 디바이스의 평가 엔지니어인 David Whitiley는 전했다.

HSDIO 계측기의 NI PXIe-654x 제품군에는 최고 200 MHz의 싱글 엔드 클럭 속도와 최고 400 Mbps 데이터 속도를 제공하는 4개의 새로운 모듈을 포함하고 있어 고속 칩 디자인을 테스트하고 보다 빠른 맞춤 통신 프로토콜을 수용하는 것이 가능하다. 본 제품군의 고급 디지털 모듈은 양방향 통신, 리얼타임 비트 비교, 두 배의 데이터 속도 기능, 다른 I/O 라인에 대한 여러 타이밍 지연 그리고 22개의 다른 전압 레벨(1.2 ~ 3.3 V) 같은 여러 추가적인 기능들이 향상된 디지털 I/O 테스트 유연성을 위해 포함되어 있다. 이 같은 새 디지털 I/O 디바이스들은 NI PXI-654x, PXI-655x 시리즈 고속 디지털 제품군들을 최고 200 MHz의 싱글엔드 및 LVDS 전압 기능을 가진 10개의 PXI 계측기로 확장한다.

새로운 NI PXI-4132 고정밀 SMU는 고해상도 전류 측정을 위해 10 pA까지 전류 민감도를 제공한다. 이 제품은 단일 출력에 원격 센싱과 외부 가딩(Guarding)을 제공하여 단일 PXI 슬롯에 최고 ±100 V 기능을 갖추고 있다. 그리고 SMU는 하드웨어 타임, 고속 곡선 추적을 위한 온보드 하드웨어 시퀀싱 엔진과 PXI 백플레인에 여러 PXI-4132 SMU를 트리거링하고 동기화하는 기능을 포함하고 있다. PXI-4132는 기존 PXI-4130 전력 SMU를 보완하여 4-구적 40 W 출력 (±20 V, ±2 A)을 제공하여 PXI를 위한 고정밀 및 고전력 소스 측정 옵션을 선보인다.

또한 NI PXI-2515와 NI PXIe-2515 디지털 스위치는 테스트 중인 칩에 연결된 HSDIO 라인에 정밀 DC 계측을 직접 멀티플렉싱 하도록 도와줌으로써 PXI 제품 패키지의 기능을 보다 더 강화시켜준다. 그리고 새로 출시된 스위치는 파라미터 측정을 위한 향상된 신호 연결 제공과 고속 디지털 엣지에서 신호 무결성을 유지한다.

NI PXIe-5663E와 NI PXIe-5673E 6.6 GHz RF PXI Express 벡터 신호 분석기 그리고 벡터 신호 생성기는 RF List Mode라고 하는 새 기능을 이용하여 RF 구성에서 빠르고 결정성 있는 변경을 통해 향상된 측정 속도를 제공하여 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있다. 새로운 기능을 이용하면 다른 RF 구성을 통해 신속한 주기로 사전 구성된 계측기 파라미터를 다운로드하는 것이 가능하다. 이는 여러 주파수에 대한 성능 확인이 필요한 전력 증폭기와 기타 RFIC를 테스트할 때 특히 유용하다. 추가된 본 기능을 이용하는 RF 엔지니어들은 기존 계측기와 비교하여 훨씬 빠르게 멀티 밴드 RF 측정을 수행할 수 있다.

PXI Semiconductor Suite은 NI PXI 고속 디지털 제품을 사용할 때 WGL 및 STIL 디지털 벡터 포맷을 효율적으로 반입하여 간단한 디자인-테스트 통합을 수행하는 솔루션을 도입하였다. NI와 Test Systems Strategies, Inc. (TSSI) 협력의 결과물인 내쇼날인스트루먼트 소프트웨어용 TSSI TD-Scan을 이용하는 반도체 테스트 엔지니어는 PXI 시스템에 WGL 및 STIL 시뮬레이션 벡터를 반입하는 것이 가능한데, 이전에 본 태스크를 수행하려면 직접 소프트웨어 개발이 필요했다. WGL/STIL 소프트웨어 툴의 평가판 버전은 모든 NI PXI-654x, PXI-655x 그리고 PXI-656x HSDIO 시리즈 제품을 지원하며 웹사이트 ni.com에서 다운로드 가능하다. 풀 버전의 소프트웨어 구입은 TSSI를 통해 가능하다.

ni.com/semiconductor/suite을 방문하여 PXI Semiconductor Suite을 보다 자세히 알아보고 아날로그 디바이스와 기타 업체들이 PXI와 LabVIEW를 이용하여 칩 테스트 비용을 절감한 방법을 확인할 수 있다.

문의: 02-3451-3400, infokorea@ni.com

한국내쇼날인스트루먼트 개요
한국내쇼날인스트루먼트(주)는 컴퓨터 기반 계측 및 자동화 솔루션을 제공하며, 대표 제품은 그래픽 기반의 프로그래밍 언어인 LabVIEW와 데이터 수집 보드, 모듈형 계측기 등이 있다. 미국 텍사스주 오스틴에 소재한 내쇼날인스트루먼트 본사와 40개 국의 지사에서 6천여 명의 임직원이 근무하고 있으며, Fortune지에서 선정하는 일하기 좋은 100대 기업에 12년 연속 선정된 바 있다.

웹사이트: http://ni.com/korea

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