안리쓰, 탑재 디바이스 평가 위한 고주파수 오실로스코프 프로브 출시
보드에 탑재되는 고속 디지털 통신 장비와 디바이스를 검사하고 문제를 해결하기 위해서는 각 디바이스의 입력과 출력에서 파형을 직접 모니터링할 수 있어야 한다. 새로운 DC - 7.5 GHz J1512A 수동 프로브는 이러한 용도로 MP2100A 시리즈의 어플리케이션 부품으로 추가되었다. 이 프로브를 사용하면 보드에 SMA 커넥터와 같은 동축 커넥터를 제공할 필요 없이, 탑재된 전자 디바이스의 파형과 신호 레벨을 바로 손쉽게 모니터할 수 있다.
안리쓰는 BER*1 및 아이팬턴*2 분석을 이용하여 디바이스의 성능을 평가하기 위해 고주파수 프로브를 올-인-원 MP2100A 시리즈에 추가함으로써 고속 디지털 통신 장비의 R&D 및 제조 효율성을 높일 수 있을 것으로 기대하고 있다.
제품 개요
J1512A 수동 프로브는 GHz 대역 샘플링 오실로스코프와 함께 사용하도록 설계되어 탑재된 전자 디바이스의 파형과 신호 레벨을 간편하게 모니터하고 확인할 수 있도록 해준다
주요 특징
넓은 주파수 대역 (7.5 GHz)
J1512A 수동 프로브는 DC에서 7.5 GHz 주파수 대역 (일반적인 값)을 지원하므로 GHz-대역 샘플링 오실로스코프와 함께 사용하기에 이상적이다.
낮은 입력 커패시턴스 (<0.5 pF)
J1512A 수동 프로브 감쇠 비율은 저항 변화에 따라 10:1 에서 20:1 사이로 변경된다. 게다가0.5 pF (최대)의 낮은 입력 커패시턴스는 고속 신호 파형을 모니터링하도록 지원해준다.
소형 접지 리드
우수한 탄성의 짧은 접지 리드는 고주파수 회로를 손쉽게 평가하도록 해준다.
목표 시장 및 어플리케이션
목표 시장: 고속 디지털 통신 장비 및 디바이스의 R&D와 제조
어플리케이션:고주파수 회로의 설계 검증
용어설명
1 비트 오류율 (BER: Bit Error Rate):수신한 디지털 데이터 스트링에 포함된 부정확한 비트 비율
2 아이패턴:광신호 전송 부품 및 경로(광섬유 등)의 품질을 나타내는 파형. 이 파형은 계측기기의 스크린에 여러 번 나타나며, 마치 눈을 뜨고 있는 것같이 보이므로 아이패턴이라 부른다. 고품질 파형은 시간에 따라 정확히 같이 위치에 다시 그려지므로, 파형이 또렷하고 정확하게 보인다. 품질이 좋지 않은 파형은 시간에 따라 조금씩 다른 위치에 그려지므로, 파형이 흐릿하게 보인다. 아이패턴이 뚜렷한 정도에 따라 전송된 신호가 정확한지 평가할 수 있다.
안리쓰코퍼레이션 개요
안리쓰는 혁신적인 통신 테스트 및 측정 솔루션을 제공한다. 안리쓰는 고객을 진정한 파트너로 참여시켜 R&D, 제조, 설치 및 유지 보수 애플리케이션을 위한 무선, 광, 마이크로파/RF 및 디지털 솔루션과 네트워크 모니터링 및 최적화를 위한 다양한 차원의 솔루션을 개발할 수 있도록 지원한다. 안리쓰는 또한 통신 제품 및 시스템을 위한 정밀 마이크로파/RF 컴포넌트, 광학 디바이스 및 고속 전기 디바이스를 제공한다. 상업, 민간, 군사/항공 우주, 정부 및 기타 시장에 사용되는 신흥 및 legacy 유무선 기술을 위한 고급 솔루션을 개발한다.
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