NI, ‘NI PXI 벡터 네트워크 분석기’로 반도체 및 모바일 디바이스 제조업체의 테스트 비용 절감

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2012-12-07 17:35

서울--(뉴스와이어)--내쇼날인스트루먼트는 계속해서 복잡해지고 있는 RF 테스트 요구사항을 기존 박스형 계측 솔루션의 비용, 크기 및 개발 시간 일부만으로 해결할 수 있도록 최적화된 NI PXIe-5632 VNA를 출시한다고 발표했다.

이 새로운 PXIe VNA는 주파수 범위가 300 kHz ~ 8.5 GHz에 이르는 혁신적인 듀얼 소스 아키텍처에 구축되었고, 독립적으로 소스 조정이 가능하며, 소스 액세스 루프를 통해 다양한 세트의 측정 어플리케이션을 처리할 수 있다.

내쇼날인스트루먼트 RF 연구 및 개발 부사장인 Jin Bains는 “NI는 RF 및 마이크로웨이브 계측기에 공격적인 투자를 지속하여 PXI를 하이엔드 어플리케이션에 적용하고 있습니다. NI PXIe-5632 VNA에 탑재된 다양한 기능은 네트워크 측정 비용을 획기적으로 줄여주며, 아주 정확한 측정, 빠른 측정 속도 및 작은 크기가 필요한 대량의 자동화 테스트 어플리케이션에서 특히나 뛰어난 성능을 발휘합니다.”라고 말했다.

제품 하이라이트

- NI 벡터 네트워크 분석기 (VNA)는 빠른 자동화 측정, 기능이 풍부한 인스트루먼트 아키텍처 및 간단해진 테스트 시스템 개발을 통해 테스트 비용 절감
- 새로운 NI PXI Express 모듈은 고급 VNA 측정 기능을 통합하여 정밀 DC, 고속 아날로그 및 디지털 측정 및 기타를 통합한 PXI 기반 테스트 시스템 완성

제품 특징

- 2개 포트, 3-슬롯 PXI Express VNA (300 kHz ~ 8.5 GHz 주파수 범위)
- 0.01 dB 스텝에서 설정 가능한 -30 dBm ~ +15 dBm의 넓은 전력 범위로 응압 및 활성 디바이스의 s-파라미터 측정
- 펄스 s-파라미터 측정을 위한 소스 액세스 루프와 확장된 소스 전력 범위를 갖춘 듀얼 소스 아키텍처
- 독립적으로 조정된 소스를 이용한 주파수 오프셋 기능을 통해 주파수 변환 디바이스와 핫 S-파라미터 측정
- NI LabVIEW, ANSI C 및 .NET용 프로그래밍 가능한 인터페이스로 간단한 프로그래밍과 빠른 테스트 개발 시간 및 RF 측정 품질 유지

보다 자세한 정보는 www.ni.com/vna 에서 확인 가능하다.

한국내쇼날인스트루먼트 개요
한국내쇼날인스트루먼트(주)는 컴퓨터 기반 계측 및 자동화 솔루션을 제공하며, 대표 제품은 그래픽 기반의 프로그래밍 언어인 LabVIEW와 데이터 수집 보드, 모듈형 계측기 등이 있다. 미국 텍사스주 오스틴에 소재한 내쇼날인스트루먼트 본사와 40개 국의 지사에서 6천여 명의 임직원이 근무하고 있으며, Fortune지에서 선정하는 일하기 좋은 100대 기업에 12년 연속 선정된 바 있다.

웹사이트: http://ni.com/korea