한국NI, ‘SEMICON KOREA 2014’에서 반도체 양산 테스트장비(ATE) 최초 공개
한국NI는 이번 행사에서 모듈형 계측기인 PXI 기반의 NI 반도체 양산 테스트 장비(ATE)를 본사 정식 출시 전 국내 테스트 엔지니어에게 최초 공개한다. 특히 어느 곳에나 쉽게 설치 가능한 저비용의 NI 반도체 양산 테스트 장비(ATE) 는 일부 고객에게만 공개 한다고 밝혔다.
한국NI는 본 세미콘 코리아 전시회에서 반도체 개발 검증을 위한 I2C / SPI 통신을 저렴하고 손쉽게 연결할 수 있는 시리얼 프로토콜 생성기에 대한 데모시연과 더불어 무료 세미나 신청을 받는다. 또한 반도체/LED 개발·검증·테스트·양산 단계에서 적용 가능하며 고정밀 측정 기능을 가진 NI PXIe-4139 데모와 Triquint와 ST-Ericsson이 도입한 NI PXI 기반 RF 통합 테스트 플랫폼(RF PAM Envelope Tracking Test)을 한국NI 부스에서 소개할 계획이다.
한편, 한국NI의 부스(코엑스 3층 C홀 6003)에서는 전문 어플리케이션 엔지니어의 데모 시연, 이벤트 및 제품 상담이 함께 진행될 예정이다.
보다 자세한 사항은 한국NI 홈페이지 ni.com/korea/events 를 방문하길 바란다.
웹사이트: http://ni.com/korea
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한국내쇼날인스트루먼트
김주희
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