NI, 업계를 선도하는 속도·밀도·유연성으로 SMU를 새롭게 정의
- NI PXIe-4139는 유사한 박스형 계측기와 비교할 때 2배의 채널 밀도로 100배 빠른 샘플링 속도를 제공
내쇼날인스트루먼트 테스트 시스템 그룹 매니저는 NI PXIe-4139의 장점에 대해 “엔지니어와 과학자들이 NI PXIe-4139를 사용하면 최대 500 W의 광범위 펄스 기능과 100 fA까지 감지할 수 있는 민감도 등 폭넓은 IV 경계를 확보하여 하나의 계측기로 다양한 종류의 디바이스를 테스트할 수 있다. 또한 자동화 테스트 장비에서는 컴팩트한 크기 역시 매우 중요한 요소로 기존의 박스형 계측기 SMU와 비교할 때 시스템에서 차지하는 공간을 크게 줄여줄 수 있다.”고 말했다.
NI PXIe-4139는 NI Source Adapt 기술을 탑재하여 엔지니어들이 SMU 컨트롤을 맞춤 설정함으로써 어떤 로드에 대해서도 최적의 SMU 응답 특성을 생성할 수 있도록 도와준다. 이렇게 하면 테스트 중인 디바이스를 보호하고 시스템 안정성을 높일 수 있다. 또한 NI PXIe-4139 시스템 SMU는 기존의 SMU보다 100배나 빠른 1.8 MS/s에서 측정을 수행할 수 있다. 따라서 엔지니어들은 테스트 시간을 절감하고 외부 스코프 없이도 일시적인 디바이스의 동작을 수집할 수 있게 된다.
주요 기능:
- 100 fA 전류 측정 민감도: 고성능 반도체 디바이스를 정밀하게 측정.
- 1.8 MS/s 샘플링 속도: 외부 스코프 없이 디바이스의 과도현상을 수집.
- 4U, 19 인치의 랙 공간에 최대 17개의 SMU 채널: 채널이 많은 시스템에 대비하여 시스템에서 차지하는 공간을 최소화.
- SourceAdapt 기술: 과도 시간을 단축하여 전반적인 테스트 시간을 절감하고 높은 인덕티브 또는 캐패시티브 로드의 경우에도 오버슈트와 진동으로부터 테스트 디바이스를 보호.
NI SMU 디바이스에 대한 더 자세한 내용은 www.ni.com/smu 를 방문하면 알 수 있다.
웹사이트: http://ni.com/korea
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김주희
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