안리쓰, BERTWave MP2110A 샘플링 오실로 스코프 업그레이드 실시

클럭 리커버리, PAM4 분석 및 지터 분석 기능추가

뉴스 제공

2018-01-17 09:57

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성남--(뉴스와이어)--안리쓰는 BERTWave MP2110A 샘플링 오실로 스코프의 광 모듈 및 장치 제조 및 검사 기능을 업그레이드한 3가지 새로운 클럭 리커버리, PAM4 분석 및 지터 분석 옵션을 출시한다고 발표했다.

◇개발 배경

데이터 트래픽 양은 빠르게 성장하는 공급 업체가 새로운 고유 서비스를 사용자에게 제공함에 따라 기하 급수적으로 증가하고 있다. 결과적으로 이러한 서비스를 지원하는 광 모듈은 전송 속도가 이전 NRZ 기술에서 PAM4[*1]로 진화하면서 200 및 400 Gbit/s의 더 빠른 속도로 전환되고 있다. 사용중인 실제 모듈의 성능을 평가할 필요성은 전송 장비 광 인터페이스를 평가하고 지터 구성 요소 등을 분리하는 트리거 신호를 제공하고 지터 구성 요소 등을 분리해야 한다.

결과적으로 이러한 다양한 측정 요구와 PAM4 광 모듈 제조를 충족시키기 위해 안리쓰는 MP2110A에 이러한 효과적인 옵션을 추가하여 검사 시간 단축, 생산 라인 수율 증가 및 측정 장비 비용 절감을 지원한다.

◇제품 개요 및 주요 특징

기존의 BER 측정 및 EYE 패턴 분석[*2] 외에도 올인원 MP2110A를 사용하여 클럭 리커버리, 지터 분석[*3] 및 PAM4 분석을 지원하는 세 가지 새로운 기능을 추가했다. 이러한 새로운 옵션은 언제든지 MP2110A에 새롭게 장착할 수 있다.

·옵션-095 PAM4 분석 소프트웨어

이 옵션은 TDECQ[*4]와 같은 PAM4 광 신호를 평가하는 데 필요한 측정을 지원한다. 복잡한 설정이 없고 측정 결과를 쉽게 캡처할 수 있다.

저 노이즈(3.4μW typ.) 및 고감도 오실로스코프는 작은 EYE 마진 PAM4 신호에서도 높은 재현성 측정을 지원한다.

고속 샘플링은 TDECQ 분석에 필요한 데이터 수집 시간을 단축시킨다. 측정 시간 단축으로 PAM4 신호 평가에서 생산성을 향상 시킨다.

·옵션-054 클럭 리커버리(전기/광)

이 옵션은 입력 데이터 신호에서 샘플링 오실로스코프에 필요한 트리거 신호를 복구한다. 클럭 소스가없는 전송 장비와 같은 파형 모니터링에 사용할 수 있다. 복잡한 케이블 연결없이 쉽고 저렴한 비용의 측정 시스템 구성을 지원하는 내장 설계로 구성됐다.

장비 비용 절감을 위해 NRZ 및 PAM4 클락 복구 지원한다. MP2110A 내부 디바이더로 인한 손실을 줄이고 수신감도에 미치는 영향을 최소화 하여 PAM 신호의 고감도 모니터링 지원한다.

·옵션-096 지터(Jitter) 분석 소프트웨어

이 옵션은 TJ, DJ, RJ 등과 같은 다양한 지터 구성 요소에 대한 개별 분석을 지원한다. J2, J9 등 제조 검사(EYE 모드)가 요구하는 빠르고 쉬운 측정을 지원한다. 자세한 DJ 분석 지원(고급 지터 모드)과 동시 지터 분석 및 EYE 마스크 테스트를 지원하여 측정 시간 단축시킨다.

◇MP2110A 제품 자세히 보기

대상 시장과 응용분야

·대상 시장 : 광 모듈(CFP2/4/8, QSFP28, SFP28, OSFP, QSFP-DD 등), 능동형 광 케이블 및 광학 장치에 대한 PHY 계층 성능 평가
·응용 분야 : 광 모듈 및 광 디바이스 제조 및 검사

◇Technical Terms

[*1] PAM4

PAM은 Pulse Amplitude Modulation의 약자로, 진폭 변조를 사용하여 전송 용량을 늘리는 방법입니다. PAM4는 4 차 진폭 변조 방식

[*2] EYE Pattern Analysis

이 방법은 주기적인 신호 파형을 합산하여 아이 패턴 파형을 분석한다. 표시된 신호 파형이 눈처럼 보이기 때문에이를 EYE 패턴이라고한다. 신호 품질은 동일한 위치에서 반복적으로 파형을 그릴 때 높게 평가되지만 반복적으로 그려진 파형이 드리프트하면 신호가 제대로 전송되지 않는 것으로 평가된다.

[*3] Jitter Analysis

전기 신호를 전송할 때 신호 도달 시간은 전파 경로 특성 및 외부 환경과 같은 요소의 영향으로 인해 변한다. 이 지연 시간 변화를 지터(Jitter)라고합니다. 지터-분리 분석은 생성 소스 및 분석 속성을 기준으로 구성 요소를 분리한다.

[*4] TDECQ

TDECQ는 Ttransmitter 및 Ddispersion eye Closure Quaternary for PAM4의 약자이다. PAM4 광 신호 품질에 대한 IEEE 지정 평가에서 측정 항목은 NRZ EYE 마스크 테스트로 변경된다.

웹사이트: https://www.anritsu.com