에이블릭, 업계 최소형[1] UV-A, UV-B 감지 실리콘 광전 다이오드 S-5420 출시

출처: ABLIC Inc.
2018-08-13 10:30
  • S-5420은 높은 감도와 낮은 감도의 광전 다이오드로 구성된다. S-5420은 PD 출력 간 차이를 계산하여 가시광선을 제거함으로써 필터 없이 UV 구성요소를 검출할 수 있도록 ...

    S-5420은 높은 감도와 낮은 감도의 광전 다이오드로 구성된다. S-5420은 PD 출력 간 차이를 계산하여 가시광선을 제거함으로써 필터 없이 UV 구성요소를 검출할 수 있도록 한다

  • S-5420은 SON-6C 수지 패키지에 들어 있다

    S-5420은 SON-6C 수지 패키지에 들어 있다

지바, 일본--(Business Wire / 뉴스와이어) 2018년 08월 13일 -- 일본의 반도체 제조회사 에이블릭(ABLIC)이 UV-A에서 UV-B에 이르는 자외선(UV) 감지가 가능한 실리콘[2] 기반 UV 광전 다이오드 S-5420을 출시했다고 발표했다.[3]

S-5420은 가시 광선을 제거하고 고감도 및 저감도 광전 다이오드 시그널의 차이를 계산함으로써 필터 없이도 UV 광선을 감지해낼 수 있다. 필터가 없는 까닭에 소형 어플리케이션도 가능하고 필터로 인한 감쇠(減衰) 현상도 방지할 수 있다. 소형 투명수지 패키지는 웨어러블 기기의 디자인 유연성을 더해준다.

이 제품은 도호쿠 대학 공학연구과 스가와 시게토시(Shigetoshi Sugawa) 및 구로다 리히토(Rihito Kuroda) 교수가 이끄는 연구 팀에 의해 공동 개발됐다.

[1] 2018년 6월 현재 연구에 근거
[2] 실리콘 기반 UV 광전 다이오드: 실리콘 반도체는 유연성이 높으며 실리콘 센서는 추후 회로 집적도와 성능이 높아지더라도 이를 충분히 따라 잡을 수 있다.
[3] UV-A에서 UV-B에 이르는 범위의 자외선(UV): UV-A 주파수는 315~400nm이고 UV-B 주파수는 280~315nm이다.

실리콘 반도체의 활용 덕택으로 S-5420은 피부 흠집과 주름을 유발하는 UV-A 범위 내의 UV 광선에서 화상을 초래하는 UV-B 범위까지를 측정할 수 있다. 소형 투명수지 패키지의 S-5420은 다양한 웨어러블 기기에 맞기 때문에 누구든지 손쉽게 UV 광선 강도를 측정할 수 있게 한다.

사이즈가 작은 덕택으로 산업용으로 쓰이는 자외선 방사조도 및 노출계에도 적용될 수 있는 디자인 유연성을 갖는다.

주요 특징

1. UV-A에서 UV-B까지의 UV 광선을 감지한다.
2. 두 광전 다이오드 사이의 차이를 계산함으로써 필터 없이도 UV 광선을 감지해낼 수 있다.
3. 소형 수지 패키지 형이다.

어플리케이션 사례

- 자외선 인덱스 측정기
- 자외선 방사조도 측정기

비즈니스 와이어(businesswire.com) 원문 보기:
https://www.businesswire.com/news/home/20180809005228/en/

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